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ENEA - divisione Fusione
Laboratorio Diffrattometria a Raggi X
Contatto: Dott.sa Antonella Mancini
e-mail: antonella.mancini@enea.it
tel.: +39 06 9400 5613
fax.: +39 06 9400 5393
La diffrattometria a raggi-X (XRD) è uno dei metodi più utili per esplorare la natura della materia. La diffrattometria a raggi-X viene usata, in generale, per determinare le fasi cristalline contenute in minerali e materiali ed è particolarmente utile nel caso di materiali cresciuti per epitassia.
Una misura XRD utilizza una sorgente di radiazione con lunghezza d'onda di poche decine di Å emessa da un elettrodo di rame eccitato dagli elettroni emessi da un filamento di tungsteno per effetto termoionico. La radiazione viene fatta incidere con angolo θ rispetto alla superficie del campione. Quando la condizione di Bragg nλ = 2d sinθ è soddisfatta, il rivelatore, in direzione dell’angolo θ, raccoglierà un picco di intensità della radiazione diffratta dal campione. In questo modo si possono stimare sia le distanze reticolari sia il grado di epitassia del campione.
Nella Sezione Superconduttività è presente un laboratorio di diffrattometria a raggi X.
diffrattometro
Rigaku Geigerflex
Un diffrattometro per polveri Rigaku Geigerflex in configurazione Bragg-Brentano
consente di eseguire sui campioni misure di due tipi:
in θ-2θ e in ω.
diffrattometro
Seifert XRD3003 PTS
Un secondo diffrattometro, Seifert XRD3003 PTS, equipaggiato con un goniometro a quattro cerchi, è usato per analisi della tessitura e per misure di stress.
